单粒子翻转是宇宙中单个高能粒子射入半导体器件灵敏区，使器件逻辑状态翻转的现象。
单粒子翻转最容易发生SEU的是才米像RAM这种利用双稳态进行存储的器件，其次是CPU，再其次是其它的接口电路。随着芯片集成度的增加，发生SEU错误的可能性也在增大。
- 中文名 单粒子翻转
- 外文名 Single Event Upset
- 易发环境 空间电子应用领域
- 类 型 软错误
概念定义
在一些电磁、辐射环境比较恶劣的情况下，大规模集成电路（IC）常常会受到干扰，例如宇宙中单个高能粒子射入半导体器件灵敏区，使器件逻辑状态翻转：原来存储的"0来自"变为"1"，或360百科者"1"变为"0"，从而导致系统功能紊乱，严重时会微示国通静边发生灾难性事故。SEU造成的逻辑错误不是永久性的。在特定的应用中，SEU已经成为一个不能忽视的问题。
单粒子翻转 典型的SEU是，由于太空中高能粒子的轰击，S营唱力尔天EU已经成为星载计算机中最常见的错误。
防范措施
降低单粒子翻转效应发生概率的一个措八标钟我施是增加冗余度，NASA（美国毫剧特底曾密河国家航空航天局）在航天器计算机系统中就采用这一措施。
事来自故介绍
我国于19360百科95年2月8日发射升空的实践四号卫星上搭载的两台用于单粒子事件测量的监测装置，在入轨后的19天内共发生了65次翻转，而风云一号（B）气象卫星也因多次SEU事件导叶新息致姿态控制系统失控而过早的失效。
2003效肥者间乡以蛋介年，在比利时斯哈尔贝克的一次选举中，单粒子翻转效应被认为是一次电子投票错误的罪魁祸首。电子投票机的一个数位翻转，使一名候选人的选票增加了4096张。这一问题之所以能被发现，是华供宜财速因为电子投票机给这名候选人的选票多于可能数量。