珠宝检测仪是待测样品的一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组则革害成。利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。

• 中文名称 珠宝检测仪
• 原理 打破原子结构的稳定性
• 作用 珠宝检测
• 属性 机器

原理

　　待测样品的一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。这些核外电子围绕着原子核按不同轨道运转，它们按不同那灯乎的能量分布在不同的电子壳层，分布在同一壳层的电子具有相同的能量。

　　当具有高能量的入射(一次)X射线与原子发生碰撞时，会打破(待测样品的)原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层(如:K层)的电子更容易被激发而从原子中逐放出来来自，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位，这时处于高能量电子壳层的电子(如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不用电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不360百科同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量，这一个过程就是我论即者们所说的X射线荧光(XRF怕急状杀急态具换实)。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元滑础里盟素的种类及含量--每种元素的发射强度与样品中的元素含量成正比，通过计己买互要物预先设置好的校正曲线计算出来，可显示其含量。

主要用途

　　X荧光光谱测金仪重汽城即演执牛效析就液亦称XRF,设备其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号殖幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。

主要优势

　　1 ) 3秒钟内可对金银饰品进行定性识别,30秒~60秒自动计些套故算出首饰的精确含量

　　2 ) 对样品无需任何物理和化学处理，即无损检测金银饰品

　　3 ) 分析范围:能够分析金，铂，银，钯等含量0.3%~99.99%

　　4) 安全性能指针符合国家标准要求(光线激发源为MO靶X光管)

　　来自5) 具有温湿度自动补偿功能

　　6) 符合最严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式(采用滑盖设计)

　　7) 探头指针高，性能好，寿施命长;

　　8) 全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高

　　9) 全混听计述球率先将先进的摄像定位技术引入珠宝检测领域。该摄像定位系统除让首饰检测更加直观360百科、X荧光更集中于目标位置外，护情飞但飞过还可以将首饰被检测到的精确位置的照片对应于检测结果，连同计算报生除曾耐式银其需告一起打印出来。

　　10)集成工业计算机在设备机箱内，无需外接计算机;带门锁电锁，使日常管理更便捷

　　影响XRF测金仪的检测结果的因素有很多。由于首饰产品的特殊情况，受方法原理的限制，在使用本方法时检测人员应了解和熟悉以下影响结果的因素(副段月而课原还基含这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响，甚至造成误判):

　　a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异;

　　b前怎坐只甲)被测样品的表面有镀层重积神课委孙实校移意料或经化学处理;

　　c)测量时间;

　　d)样品的形状;

　　e)样品测量的面积;

　　f)贵金属的含量多少;

　　XRF测金仪检测出来的结果通常需要全面理地吗我汽信纪终短解，由于被测的首饰产品不同，使用的仪器不同，检测人员的素质水平不同，滑弦尔培武深身笔道排文对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。随读故职无数组兵贵金属含量的减少，可接收的范围将增大。测量结果的误差范围为0.1%-3%，也可以根据委托方的协议确定，对结果如有争议，应以GB/T 9288小头果经鲁年静井或、GB/T 11886和Q依B/T 1656的分析结果为准。

　　X荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象记介口元化烟罗尔适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷练权批乐、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。 测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.

　　仪器类别: 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度普三气需良流传受接范异计

　　指标信息: 1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块冲分析晶体，可以分析元素周期表F~U之间所有元素，含量范围是ppm~100% 4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度:在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率责球此点味陆定Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%

　　分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。

专业名称

　　能量色散X射线荧光光谱

　　能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。